如何評定行星齒輪箱中齒輪缺陷磁痕
兆威機電通過(guò)在齒輪及齒輪箱領(lǐng)域多年的設計、開(kāi)發(fā)、生產(chǎn),通過(guò)行業(yè)的對比及大量的實(shí)驗測試數據設計開(kāi)發(fā)出行星齒輪箱,微型減速電機,齒輪箱電機
行星齒輪箱中缺陷磁痕的評定可采用以下規定:
1)磁粉檢驗的所有缺陷磁痕的尺寸、數量以及產(chǎn)生部位均應記錄,并圖示。磁痕的記錄可采用膠帶法、照相法以及其他有效的方法;
2)長(cháng)度與寬度之比大于3的缺陷顯示磁痕,則按線(xiàn)性缺陷處理;長(cháng)度與寬度之比小于或等于3倍的缺陷顯示跡痕,則按圓形缺陷進(jìn)行處理;
3)兩條或兩條以上缺陷顯示跡痕在同一直線(xiàn)上,其間距小于或等于2mm時(shí),則按一條缺陷處理,其長(cháng)度為顯示跡痕長(cháng)度之和加間距;
4)除確認顯示痕跡是由外界幾何因素或操作不當造成的之外,其他大于或等于0.5mm的顯示痕跡均應作為缺陷側很處理.
以上內容摘自《齒輪驅動(dòng)設計手冊》 化學(xué)工業(yè)出版社
兆威機電成立來(lái),教授,博士,碩士等組成的微型減速電機研發(fā)團隊,為博世等研發(fā)生產(chǎn)微型減速電機,齒輪箱電機,行星齒輪箱等產(chǎn)品,因為專(zhuān)注,所以。